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變溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)（RMS）采用四探針?lè)夹g(shù)，具備檢測(cè)材料電阻率的能力?？捎糜跍y(cè)量半導(dǎo)體塊狀樣品、半金屬樣品（康銅、鎳、鉍等）以及部分非金屬樣品（石墨、碳材料等）的電阻率。廣泛應(yīng)用...
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FMS用于在拉伸或者壓縮狀態(tài)下，對(duì)材料進(jìn)行高低溫的顯微觀(guān)察；主要針對(duì)有機(jī)高分子、納米材料、金屬材料和復(fù)合材料等研究領(lǐng)域。該設(shè)備是新材料力學(xué)性能研究的重要工具。
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廣泛應(yīng)用于測(cè)量金屬和半導(dǎo)體塊狀樣品、納米薄膜樣品的Seebeck系數(shù)和電阻率。熱電材料是一種將熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料。Seebeck系數(shù)、電阻率和熱導(dǎo)率是...
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重光變溫顯微測(cè)試系統(tǒng)是一套聯(lián)用其他顯微結(jié)構(gòu)表征技術(shù)的冷熱臺(tái)型顯微系統(tǒng)，適用于物相及其微結(jié)構(gòu)分析。在超長(zhǎng)的物鏡、高精度、高靈敏溫度控制和高質(zhì)量的成像技術(shù)的加持下，MMS擁有更強(qiáng)大的樣...
