霍爾效應(yīng)測(cè)試儀（HEM）

簡(jiǎn)要描述：可用于一般半導(dǎo)體材料的霍爾系數(shù)、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測(cè)量，是研究半導(dǎo)體和電子材料的電子特性的重要工具。

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一、產(chǎn)品應(yīng)用

可用于一般半導(dǎo)體材料的霍爾系數(shù)、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測(cè)量，是研究半導(dǎo)體和電子材料的電子特性的重要工具。

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

1、高精度電流源，輸出精度可達(dá)0.1微安，可測(cè)量大部分半導(dǎo)體材料。

2、高精度電壓源，24位ADC采集，精度可達(dá)微伏級(jí)。

3、可靠的重復(fù)性，軟硬件設(shè)計(jì)多重濾波，使測(cè)量數(shù)據(jù)更穩(wěn)定，確保每個(gè)實(shí)驗(yàn)數(shù)均為多次測(cè)試好的平均值。

4、簡(jiǎn)約大氣的外觀設(shè)計(jì)，儀器連接操作簡(jiǎn)單，完成樣品信息設(shè)置后，用戶可一鍵點(diǎn)擊測(cè)試，即可同時(shí)得到電阻率、載流子濃度、霍爾系數(shù)與方阻數(shù)據(jù)。

5、測(cè)試速度快，支持快速切換電流與磁場(chǎng)方向，通過范德堡法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

三、產(chǎn)品參數(shù)

霍爾參數(shù).png

四、軟件界面

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