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簡要描述: 廣泛應用于測量金屬和半導體塊狀樣品、納米薄膜樣品的Seebeck系數(shù)和電阻率。熱電材料是一種將熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料。Seebeck系數(shù)、電阻率和熱導率是熱電材料研究的三個主要參數(shù)。TMS-2廣泛用于測量高低溫條件下,金屬和半導體材料的Seebeck系數(shù)和電阻率,測試的對象包括塊體樣品、絲狀樣品和熱電薄膜樣品(厚度≥50nm)。在熱電材料研究領域有廣泛的用途。
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一、產(chǎn)品應用
廣泛應用于測量金屬和半導體塊狀樣品、納米薄膜樣品的Seebeck系數(shù)和電阻率。熱電材料是一種將熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料。Seebeck系數(shù)、電阻率和熱導率是熱電材料研究的三個主要參數(shù)。TMS-2廣泛用于測量高低溫條件下,金屬和半導體材料的Seebeck系數(shù)和電阻率,測試的對象包括塊體樣品、絲狀樣品和熱電薄膜樣品(厚度≥50nm)。在熱電材料研究領域有廣泛的用途。
二、產(chǎn)品特點
1.先進的動態(tài)測量技術(shù),測試數(shù)據(jù)準確可靠;
2.設備體積小巧緊湊,使用方便;
3.更高的變溫速度,寬廣的溫度測試范圍;
4.友好的測試界面,自動化測量,可無人值守;
5.智能化的數(shù)據(jù)存儲及處理。
三、產(chǎn)品參數(shù)
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